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高光譜成像技術是基于非常多窄波段的影像數(shù)據技術，它將成像技術與光譜技術相結合，探測目標的二維幾何空間及一維光譜信息，獲取高光譜分辨率的連續(xù)、窄波段的圖像數(shù)據。高光譜成像技術發(fā)展迅速，常見的包括光柵分光、聲光可調諧濾波分光、棱鏡分光、芯片鍍膜等。可以應用在食品安全、醫(yī)學診斷、航天領域等領域。高光譜圖像的特點：特征空間位數(shù)高，數(shù)據相關性強，冗余度高，運算時間長要求的訓練樣本多可用于分類的特征多，既包括直接光譜向量，還可以計算光譜洗手指數(shù)，導數(shù)光譜，紋理特征，形狀特征等派生特征圖像...

巖礦分析系統(tǒng)是一種測試鏡質體反射率和煤品分析系統(tǒng)。該系統(tǒng)自動化程度高，所有操作可在一套軟件上完成，測量方式可滿足國家標準；只需一次定標，就可測算出視野范圍內任意位置的鏡質體反射率，提高了測量效率。巖礦及巖石礦物是一種存在在巖石物質內部，經過長期自然因素的相互影響和相互作用形成的天然產物，也被稱之為自然聚合體。巖石礦物不存在與普通巖石中，通常在地殼內，由單一或復雜的化學元素構成。由于巖礦的構成元素較多，這些組成元素之間又能進行相互作用、隨意組合，因此巖礦物質具備明顯的多樣性的特...

煤巖分析系統(tǒng)的數(shù)據分析模塊我們增加了判斷單種煤煤巖成分組成的方法，利用該判斷方法可以得到煤巖組成含量(鏡質組、惰質組、穩(wěn)定組)。單種煤的鏡質組反射率表現(xiàn)為一個正態(tài)的分布，在全組分反射率累計直方圖一定區(qū)域內它是一條直線，所以煤巖組分百分含量可以用在全組分反射率累計直方圖中鏡質組反射率分布范圍內的擬合直線與前后兩條斜率不同曲線的擬合直線的交點來確定。先根據鏡質組反射率的方差進行測定該煤樣是單種煤或者混合煤。當方差小丁0.12時，煤樣被判別為單種煤，用上述方法判斷煤巖組分，反之，則...

X射線衍射儀是礦物學研究領域內的主要儀器,用于對結晶物質的定性和定量分析，還可確定類質同象混晶（固溶體）的成分，有限固溶體的固溶極限，區(qū)分晶質和非晶質結構的變化。測定晶體的有序－無序結構及其有序度，以及粘土礦物的混層結構等。工作原理：粉末樣品經一束平行的單色X射線垂直照射后，產生一組以入射線為軸的同軸反射圓錐面族，計數(shù)管繞樣品旋轉,依次測量各反射圓錐面2θ角（即衍射角，又稱布喇格角）位置的衍射線強度，即可獲得表征物相的各種衍射數(shù)據，從而進行物相鑒定和晶體結構的研究。注意事項：...

超高壓XRD是研究物質的物相和晶體結構的主要方法。當某物質(晶體或非晶體)進行衍射分析時，該物質被X射線照射產生不同程度的衍射現(xiàn)象，物質組成、晶型、分子內成鍵方式、分子的構型、構象等決定該物質產生*的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無污染、快捷、測量精度高、能得到有關晶體完整性的大量信息等優(yōu)點。因此，X射線衍射分析法作為材料結構和成分分析的一種現(xiàn)代科學方法，已逐步在各學科研究和生產中廣泛應用。x射線的波長和晶體內部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵...

巖礦的成分測定與分析是地質工作的一個重要組成部分，它的研究對象主要是天然礦產，如巖石、礦物等；主要任務是利用一些技術手段(儀器分析、化學分析等)，對礦物巖石的成分在不同賦存狀態(tài)下的含量及其化學組成進行測定與分析。巖礦成分的測定與分析工作具有重要的意義，如何快速準確的發(fā)現(xiàn)巖礦并給與正確的評價，是廣大地質工作者的首要任務。可以說，巖礦分析系統(tǒng)與分析工作與我國的社會主義現(xiàn)代化建設有著密不可分的聯(lián)系。巖礦分析系統(tǒng)的基本流程：1.1試樣的加工制作實際用于測定分析的試樣一般只需要幾克，因...

普通掃描電鏡的電子槍發(fā)射出電子束，電子在電場的作用下加速，經過兩三個電磁聚光鏡后在樣品表面聚焦成極細的電子束。該細小的電子束在末透鏡的上方的雙偏轉線圈作用下在樣品表面進行掃描，被加速的電子到達樣品的表面，樣品原子的外層電子受激發(fā)離開樣品形成二次電子被探測器俘獲后轉化成的信號，在顯像管熒光屏上形成的圖像亮點即掃描電鏡圖像，圖像與樣品表面形態(tài)有密切的關系。如二次電子，背散射電子，吸收電子、X射線、俄歇電子、陰極發(fā)光等。這些信號被按順序、成比例的交換成視頻信號、檢測放大處理成像，從...